بازتابندگی پرتو ایکس

بازتابندگی پرتو ایکس(به انگلیسی: X-ray reflectivity) (گاهی اوقات با عنوان بازتاب‌سنجی اشعه ایکس یا XRR نیز شناخته می‌شود.) یک روش تحلیلی حساس به سطح است که در شیمی، فیزیک و علوم مواد برای توصیف سطوح، لایه‌های نازک و چند لایه استفاده می‌شود.

نموداری از اساس عملکرد بازتابندگی پرتو ایکس

منابع

↑ پور جوادی، علی (۱۳۹۳). واژه‌نامه علوم و فناوری شیمی. تهران: فرهنگ معاصر. شابک ۹۷۸-۶۰۰-۱۰۵-۰۷۱-۸.
↑ Holy, V.; Kuběna, J.; Ohli´dal, I.; Lischka, K.; Plotz, W. (1993-06-15). "X-ray reflection from rough layered systems". Physical Review B. American Physical Society (APS). 47 (23): 15896–15903. doi:10.1103/physrevb.47.15896. ISSN 0163-1829.
↑ J. Als-Nielsen, D. McMorrow, Elements of Modern X-Ray Physics, Wiley, New York, (2001).
↑ J. Daillant, A. Gibaud, X-Ray and Neutron Reflectivity: Principles and Applications. Springer, (1999).
↑ M. Tolan, X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films, Springer, (1999).

[1] پور جوادی، علی (۱۳۹۳). واژه‌نامه علوم و فناوری شیمی. تهران: فرهنگ معاصر. شابک ۹۷۸-۶۰۰-۱۰۵-۰۷۱-۸.

[2] Holy, V.; Kuběna, J.; Ohli´dal, I.; Lischka, K.; Plotz, W. (1993-06-15). "X-ray reflection from rough layered systems". Physical Review B. American Physical Society (APS). 47 (23): 15896–15903. doi:10.1103/physrevb.47.15896. ISSN 0163-1829.

[alsnielsen-3] J. Als-Nielsen, D. McMorrow, Elements of Modern X-Ray Physics, Wiley, New York, (2001).

[4] J. Daillant, A. Gibaud, X-Ray and Neutron Reflectivity: Principles and Applications. Springer, (1999).

[5] M. Tolan, X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films, Springer, (1999).